Dynamic window to improve nand memory endurance

Nand 메모리 내구성을 개선하는 동적 윈도우

Abstract

NAND(Not And) 메모리 내구성을 개선하기 위해 동적 윈도우를 제공하는 방법들 및 장치가 설명된다. 일 실시예에서, NAND 메모리 장치와 연관되는 프로그램 소거 윈도우는 더 높은 소거 검증(TEV) 전압으로 시작하고 TEV 전압을 현재 사이클 카운트 값에 기초하여 NAND 메모리 장치의 수명 동안 후속 사이클들에 의해 낮춤으로써 동적으로 변화된다. 대안적으로, 프로그램 소거 윈도우는 더 높은 프로그램 검증(PV) 전압 및 소거 검증(TEV) 전압으로 시작하고 PV 및 TEV 전압들을 현재 사이클 카운트 값에 기초하여 NAND 메모리 장치의 수명 동안 후속 사이클들에 의해 낮춤으로써 동적으로 변화된다. 다른 실시예들이 또한 개시되고 청구된다.

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Patent Citations (4)

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    KR-20080104838-ADecember 03, 2008삼성전자주식회사Method for reading e-fuse data in flash memory device
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